
客戶動(dòng)態(tài)
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2024-08
探針臺(tái)在光電行業(yè)中的應(yīng)用主要集中在對各種光電元件和器件的測試與分析?光電二極管和探測器測試¦用于測量 ...
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2024-08
探針臺(tái)在半導(dǎo)體行業(yè)中的應(yīng)用涵蓋了從研發(fā)到生產(chǎn)各個(gè)環(huán)節(jié)的測試需求?晶圓測試 (Wafer /CP Te ...
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2024-08
探針臺(tái)作為一種精密的科學(xué)儀器?其應(yīng)用領(lǐng)域廣泛且多樣?以下是探針臺(tái)的主要應(yīng)用領(lǐng)域?半導(dǎo)體行業(yè)¦進(jìn)行集成 ...
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2024-08
探針臺(tái)的工作原理是通過其精細(xì)的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)和控制系統(tǒng)?實(shí)現(xiàn)對樣品的準(zhǔn)確測量和分析?1?定位¦通過樣品臺(tái)精 ...
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2024-08
探針臺(tái)其組成部分可以按照不同的功能模塊來劃分?下面是探針臺(tái)的主要組成部分?探針臺(tái)臺(tái)體¦這是探針臺(tái)的基 ...
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2024-08
探針臺(tái)(Probe Station)是一種用于對半導(dǎo)體器件進(jìn)行電性能測試的設(shè)備?探針臺(tái)是一種用于半導(dǎo) ...
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2024-05
數(shù)字調(diào)諧系統(tǒng)芯片增加控制線及觀察點(diǎn)的具體做法如下¦1)測試狀態(tài)的建立根據(jù)該系統(tǒng)上電時(shí)復(fù)位輸入端RES ...
04
2024-05
電路測試方法包括模塊劃分?增加控制線及觀察點(diǎn)?消除電路中的冗余邏輯等?下面以實(shí)際電路為例具體介紹兩種 ...
03
2024-05
隨著集成電路規(guī)模的快速增大?集成電路測試的困難和復(fù)雜度也不斷增加?因此在集成電路設(shè)計(jì)階段就要考慮測試 ...
02
2024-05
偽隨機(jī)測試生成方法是一種測試方法?它可以生成符合隨機(jī)特征數(shù)據(jù)的測試圖形?這種方法通常由微處理器的測試 ...