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偽窮舉測試是集成電路測試技術(shù)中的一種方法?它可以大大減少探針臺等設(shè)備總的測試次數(shù)和時間?偽窮舉測試具 ...

探針臺基于通路敏化進(jìn)行集成電路測試碼生成的具體步驟如下￤1?設(shè)置故障效應(yīng)?最常用的故障模型為固定電平 ...

通過探針臺對固定電平故障檢測生成測試碼方法￤固定電平故障￤是指導(dǎo)致電路中某一個節(jié)點電平為固定值的這一 ...

通過探針臺的集成電路測試技術(shù)中?測試碼生成的方式主要有兩種￤基于故障的確定性測試生成方法和生成符合隨 ...

隨著集成電路設(shè)計和制造技術(shù)的發(fā)展?一個集成電路芯片上可能集成了上千萬個甚至更多的元件?由于上面提到的 ...

探針臺一般會聯(lián)用到一些源表?對測試對象輸入輸出電流電壓?從而達(dá)到一些電學(xué)測試目的?靜態(tài)電參數(shù)測試對于 ...

在進(jìn)行探針臺?測試機(jī)等設(shè)備的電路測試前?我們需要了解集成電路的基本性能指標(biāo)?特別是電性能和電參數(shù)?它 ...

探針卡板上的探針與管芯的被測端(壓焊點)相連?使得探針臺能夠?qū)@些部位進(jìn)行測量?通常情況下?探針卡板 ...

對于集成電路晶圓測試來說?通常要經(jīng)過以下幾個工藝步驟￤1.合格晶圓接收；2.晶圓烘焙；3.晶圓測試； ...

集成電路測試系統(tǒng)在執(zhí)行過程中?通過以下幾個步驟來得出測試結(jié)果￤1?測量值記錄方法通過探針臺等測試收到 ...