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集成電路的性能和特性主要受到電路設(shè)計和制造工藝的影響?同時也與電路的工作條件?如電源電壓?環(huán)境溫度等 ...

集成電路缺陷?故障和失效是集成電路設(shè)計和制造過程中的重要概念?在研發(fā)階段用探針臺來檢測是比較常見的? ...

光谷薄膜作為探針臺?冷熱臺?液氮低溫恒溫器設(shè)備研發(fā)制造商?業(yè)密切關(guān)注著集成電路產(chǎn)業(yè)發(fā)展動態(tài)?為個高校 ...

在產(chǎn)業(yè)鏈中?集成電路測試可分為兩大類別￤集成電路晶圓測試和集成電路成品測試?這兩者主要依據(jù)所處的產(chǎn)業(yè) ...

集成電路測試是驗證設(shè)計?控制工藝?管理生產(chǎn)?保證質(zhì)量?分析失效以及指導(dǎo)應(yīng)用等的重要手段?集成電路測試 ...

集成電路測試原理如圖所示?圖中?待測電路DUT(Device Under Test)可以是集成電路晶 ...

經(jīng)過測試機?晶圓探針臺等設(shè)備對集成電路晶圓測試后?還有封裝后的集成電路成品測試?成品測試工廠是基于成 ...

集成電路產(chǎn)業(yè)鏈?zhǔn)紫葟脑O(shè)計開始?然后是集成電路品圓制造；制造完成的品圓要經(jīng)過集成電路品圓測試環(huán)節(jié)后才能 ...

冷熱臺（HCS）在新材料的低溫檢測領(lǐng)域也吸引了廣泛關(guān)注?包括清華大學(xué)?華中科技大學(xué)等客戶一致認(rèn)可?本 ...