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2024-05
武漢光谷薄膜技術(shù)有限公司整理了不同類型的集成電路都有的一些晶圓常規(guī)測試項目?以下是這些項目的測試方法 ...
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2024-05
上一章光谷薄膜說完了內(nèi)建自測試技術(shù)?其實集成電路自測特征分析通常作為多種測試方法的補充?涵蓋電路內(nèi)部 ...
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2024-05
前面武漢光谷薄膜提到了關(guān)于集成電路掃描設計技術(shù)?現(xiàn)在我們繼續(xù)說集成電路內(nèi)建自測試技術(shù)?集成電路的內(nèi)建 ...
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2024-05
前面武漢光谷薄膜提到最常見的掃描設計實現(xiàn)方式是采用數(shù)據(jù)選擇器?這樣可以把時序電路的測試轉(zhuǎn)換為組合電路 ...
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2024-05
數(shù)字調(diào)諧系統(tǒng)芯片增加控制線及觀察點的具體做法如下¦1)測試狀態(tài)的建立根據(jù)該系統(tǒng)上電時復位輸入端RES ...
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2024-05
偽隨機測試生成方法是一種測試方法?它可以生成符合隨機特征數(shù)據(jù)的測試圖形?這種方法通常由微處理器的測試 ...