
新聞動(dòng)態(tài)
04
2024-05
電路測(cè)試方法包括模塊劃分?增加控制線及觀察點(diǎn)?消除電路中的冗余邏輯等?下面以實(shí)際電路為例具體介紹兩種 ...
03
2024-05
隨著集成電路規(guī)模的快速增大?集成電路測(cè)試的困難和復(fù)雜度也不斷增加?因此在集成電路設(shè)計(jì)階段就要考慮測(cè)試 ...
02
2024-05
偽隨機(jī)測(cè)試生成方法是一種測(cè)試方法?它可以生成符合隨機(jī)特征數(shù)據(jù)的測(cè)試圖形?這種方法通常由微處理器的測(cè)試 ...
01
2024-05
偽窮舉測(cè)試是集成電路測(cè)試技術(shù)中的一種方法?它可以大大減少探針臺(tái)等設(shè)備總的測(cè)試次數(shù)和時(shí)間?偽窮舉測(cè)試具 ...
30
2024-04
探針臺(tái)主要用于半導(dǎo)體行業(yè)?光電行業(yè)?集成電路以及封裝的測(cè)試?它廣泛應(yīng)用于復(fù)雜?高速器件的精密電氣測(cè)量 ...
29
2024-04
隨著5G?人工智能?物聯(lián)網(wǎng)等新興技術(shù)的快速發(fā)展?科技智能產(chǎn)品正逐漸滲透到我們的日常生活和工作中?而這 ...
28
2024-04
探針臺(tái)基于通路敏化進(jìn)行集成電路測(cè)試碼生成的具體步驟如下¦1?設(shè)置故障效應(yīng)?最常用的故障模型為固定電平 ...
27
2024-04
通過探針臺(tái)對(duì)固定電平故障檢測(cè)生成測(cè)試碼方法¦固定電平故障¦是指導(dǎo)致電路中某一個(gè)節(jié)點(diǎn)電平為固定值的這一 ...
26
2024-04
通過探針臺(tái)的集成電路測(cè)試技術(shù)中?測(cè)試碼生成的方式主要有兩種¦基于故障的確定性測(cè)試生成方法和生成符合隨 ...
25
2024-04
隨著集成電路設(shè)計(jì)和制造技術(shù)的發(fā)展?一個(gè)集成電路芯片上可能集成了上千萬個(gè)甚至更多的元件?由于上面提到的 ...